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SUMMARY:ESD-Test einer Elektronik – Phänomene verstehen und eliminieren
DESCRIPTION:<p><strong>217. Wissenschaftliches Seminar</strong></p>\n\n<p>D
 ie Empfindlichkeit von Elektronikbaugruppen gegenüber elektrostatischen Ent
 ladungen (ESD) hat sich in den letzten Jahren immer weiter erhöht. Die Ursa
 chen liegen in der Weiterentwicklung der IC-Technologie. Kleinere Strukturb
 reiten des Siliziums führen zu höheren Schaltgeschwindigkeiten und niedrige
 ren Schaltschwellen, was die Empfindlichkeit gegenüber ESD-Störvorgängen an
 steigen lässt. Liegt ein Störfestigkeitsproblem vor, ist häufig eine eingeh
 ende Analyse der gesamten Elektronik notwendig. Immer größere und komplexe 
 Projekte mit oftmals mehreren, ineinander verschachtelten elektronischen Ko
 mponenten (modularer Aufbau) erschweren das Lösen eines ESD-Problems und ne
 hmen deutlich mehr Zeit in Anspruch. Neben den Grundlagen der physikalische
 n Wirkmechanismen einer ESD-Entladung werden verschiedene Effekte und Auswi
 rkungen bei ESD-Tests anhand von Musterbaugruppen aufgezeigt.&nbsp;</p>\n\n
 <p><a href="t3://file?uid=55922" target="_blank">weitere Informationen</a> 
 <sup>PDF</sup></p>\n\n\n\n
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