1. Hauptnavigation
  2. Navigation des Hauptbereiches
  3. Inhalt der Seite

Mikroskopie/Mikrobereichsanalyse

MC-MA 8

Fachliche Kompetenzen:

Die Studierenden sollen einen Überblick über die modernen Verfahren der Mikroskopie bekommen.

Sie sollen die physikalischen Grundlagen der Instrumente verstehen und in der Lage sein,  problemorientiert geeignete Verfahren zu wählen.

Die vermittelten Kenntnisse sollen sie in die Lage versetzen, sich im Beruf schnell in die Bedienung moderner mikroskopischer Instrumente einzuarbeiten zu können, als auch auf mikroskopischen Untersuchungen beruhende Ergebnisse richtig zu interpretieren zu können.

Die Möglichkeit der Kombination von Abbildung und Mikrobereichsanalyse soll vermittelt werden.

Schlüsselkompetenzen:

  • Durch die Arbeit in kleinen Gruppen im Praktikum soll die Teamfähigkeit trainiert werden.
  • Versuche sollen auch eigenständig geplant werden.
  • Im Gegensatz zum Grundpraktikum soll die Kommunikationsfähigkeit und die soziale Kompetenz durch eigene Aufgabenverteilung innerhalb der Gruppe geübt werden.

Inhalt:

Vorlesung:

  • Lichtmikroskopie
  • Lithographie und Grundlagen der Halbleiterfertigung
  • Einführung in die Elektronenmikroskopie
  • Aufbau eines Rasterelektronenmikroskops
  • Aufbau eines Transmissionselektronenmikroskops
  • Probenpräparation
  • Signalerzeugung und Verarbeitung im Elektronenmikroskop
  • Wechselwirkungsprozesse der Primärelektronen mit dem Objekt
  • Röntgenmikroanalyse im Elektronenmikroskop
  • Elektronenenergieverlustspektroskopie
  • Übersicht über weitere mikroskopische Verfahren
  • Bildverarbeitung

Praktikum: ausgewählte Versuche aus dem Bereich der Physik und Festkörperphysik. Das Praktikum soll aufbauend auf dem Grundpraktikum in Physik Versuche mit einem höheren experimentellen Aufwand und anspruchvollerer Auswertung ermöglichen.

Literatur:

Optik, E. Hecht, Oldenbourg Verlag München Wien

Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse, Peter Schmidt, expert Verlag

Das Neue Physikalische Grundpraktikum, Eichler, Kronfeld, Sahm, Springer Verlag

Aktualisiert: 30.08.2016  |  Autor: M. Klauck